A slit lamp microscope according to an exemplary embodiment comprises an illumination system, an imaging system, and a movement mechanism. The illumination system emits slit light to the anterior segment of an eye being examined. The imaging system comprises: an optical system that guides light from the anterior segment which is being irradiated with the slit light； and an imaging element that receives the light guided by the optical system on an imaging plane. The movement mechanism moves the illumination system and the imaging system. An object plane along the optical axis of the illumination system and the imaging plane of the optical system satisfy the Scheimpflug principle. The imaging system repeatedly images the anterior eye segment to acquire a plurality of images thereof while the illumination system and imaging system are moved by the movement mechanism.Un microscope à lampe à fente selon un mode de réalisation donné à titre d'exemple comprend un système d'éclairage, un système d'imagerie et un mécanisme de mouvement. Le système d'éclairage émet une lumière à fente vers le segment antérieur d'un œil examiné. Le système d'imagerie comprend : un système optique qui guide la lumière provenant du segment antérieur qui est irradié avec la lumière à fente； et un élément d'imagerie qui reçoit la lumière guidée par le système optique sur un plan d'imagerie. Le mécanisme de mouvement déplace le système d'éclairage et le système d'imagerie. Un plan d'objet le long de l'axe optique du système d'éclairage et le plan d'imagerie du système optique satisfont la loi de Scheimpflug. Le système d'imagerie image de manière répétée le segment d'œil antérieur pour acquérir une pluralité d'images de celui-ci tandis que le système d'éclairage et le système d'imagerie sont déplacés par le mécanisme de mouvement.例示的な実施形態のスリットランプ顕微鏡は、照明系と、撮影系と、移動機構とを含む。照明系は、被検眼の前眼部にスリット光を照射する。撮影系は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く光学系と、この光学系により導かれた光を撮像面で受光する撮像素子とを含む。移動機構は、照明系及び撮影系を移動する。照明系の光軸に沿う物面と光学系と撮像面とは、シ
