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一种射线准直器的自校准方法及其系统
专利权人:
深圳安科高技术股份有限公司
发明人:
徐丹,王丹辉
申请号:
CN201811459350.9
公开号:
CN109431534A
申请日:
2018.30.11
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明公开了一种射线准直器的自校准方法及其系统,所述方法包括步骤:根据上一次扫描条件和上一次曝光的探测器数据,计算出当前X射线准直器的偏移量;根据本次扫描条件和当前X射线准直器的偏移量,调整X射线准直器的偏移,从而使X射线覆盖到整个探测器。由于所有的校准方法可以通过重建机的软件来实现,不需要增加硬件成本来保证探测器和准直器之间的通讯,也不需要硬件的算法集成。且重建机上软件的开发难度,也远远比在硬件上实现动态跟踪算法要更容易、更简单,而且也容易调试,出错的概率也可以大幅降低。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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