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MONITORING DEVICE AND MONITORING METHOD BASED ON DEFORMATION, DESTRUCTION AND CONVERSION OF NANOSTRUCTURE
专利权人:
JP LABORATORIES INC;ジェイピー ラボラトリーズ インコーポレイテッド
发明人:
GORDHANBHAI PATEL,パテル,ゴルドハンブハイ,パテル,ゴルドハンブハイ
申请号:
JP2015147151
公开号:
JP2016028238A
申请日:
2015.07.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device based on the physical destruction, chemical destruction and biological destruction of nanostructure.SOLUTION: A device comprises a nanowire 51 being a nanostructure and two electrodes 52 each including a terminal 54, on a substrate 53. The characteristic of the nanostructure causes a sharp change in its characteristic such as reduction in nanostructure size due to a change in its peripheral environment (such as energy, electromagnetic radiation, pressure and magnetism). Therefore, an analyzer detects a change in the characteristic of the nanostructure via the terminals 54, and monitors peripheral environmental change on the basis of the characteristic change.SELECTED DRAWING: Figure 5【課題】ナノ構造の物理的破壊、化学的破壊、および生物学的破壊に基づくデバイスを提供する。【解決手段】基板53上にナノ構造体であるナノワイヤ51および端子54を有する2つのの電極52からなるデバイスで構成される。ナノ構造体の特性は、その周辺環境(エネルギー、電磁放射線、圧力、磁性など)の変化よって、ナノ構造サイズなどが減少など、その特性に急激な変化が起こるので、端子54を介して分析機器でナノ構造体の特性変化を検知し、その特性変化に基づき、周辺環境変化をモニタリングする。【選択図】図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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