Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf ein System zur Untersuchung eines Auges. Das System weist ein Mikroskopiesystem zur Erzeugung eines Bildebenenbildes von einem Objektbereich auf. Ein OCT-System des Systems ist konfiguriert, OCT-Daten vom Objektbereich zu erfassen, welche den Objektbereich in unterschiedlichen Spannungszuständen wiedergeben. Eine Datenverarbeitungseinheit des Systems ist konfiguriert, zumindest einen Wert eines spannungsabhängigen Parameters zu ermitteln, abhängig von den OCT-Daten. Das System erzeugt ein Ausgabebild, welches abhängig vom Bildebenenbild und ferner abhängig vom spannungsabhängigen Parameter ist.The present disclosure relates to a system for examining an eye. The system includes a microscopy system for generating an image plane image from an object area. An OCT system of the system is configured to acquire OCT data from the object area representing the object area in different voltage states. A data processing unit of the system is configured to determine at least one value of a voltage-dependent parameter, depending on the OCT data. The system generates an output image that is dependent on the image plane image and also dependent on the voltage-dependent parameter.
