is provided a method for determining a deviation between the coordinate systems of different technologies, the method described above, and determining a coordinate position of the reference features (32) of the test object 26 in the coordinate system of the first technical system of the technical system (u, v) And affixing at least one test feature (34) in the test object, wherein the coordinate system of the second technical system of said test feature, the above-described system, determined in accordance with the determined position coordinates of the reference features (32) the coordinate position, are attached In the first coordinate system of the technical system (u, v), and determining a coordinate position of the at least one of the test feature (34) and / or at least one feature obtained from it (36) And at least, (a) the determined coordinate position of the at least one of the test feature (34) and / or at least one feature obtained from it (36) in the coordinate system of the first technical system (u, v), and (b ) determining the deviation between the coordinate system of the first technical system (u, v) on the basis of the coordinate position of the reference features in (32), the first technical system and the second technical system, the coordinate system of the coordinate system The.서로 다른 기술 시스템들의 좌표계들 간의 편차를 결정하는 방법이 제공되며, 이 방법은, 상기 기술 시스템들 중 제 1 기술 시스템의 좌표계(u,v)에서 테스트 오브젝트(26)의 기준 피처(32)의 좌표 위치를 결정하는 단계와 적어도 하나의 테스트 피처(34)를 상기 테스트 오브젝트에 부착하는 단계와, 여기서 상기 테스트 피처는, 상기 기술 시스템들 중 제 2 기술 시스템의 좌표계에서, 상기 기준 피처(32)의 결정된 좌표 위치에 따라 결정된 좌표 위치에, 부착되고 상기 제 1 기술 시스템의 좌표계(u,v)에서, 상기 적어도 하나의 테스트 피처(34) 및/또는 이로부터 획득된 적어도 하나의 피처(36)의 좌표 위치를 결정하는 단계와 그리고 적어도, (a) 상기 제 1 기술 시스템의 좌표계(u,v)에서 상기 적어도 하나의 테스트 피처(34) 및/또는 이로부터 획득된 적어도 하나의 피처(36)의 결정된 좌표 위치, 및 (b) 상기 제 1 기술 시스템의 좌표계(u,v)에서 상기 기준 피처(32)의 좌표 위치에 근거하여, 상기 제 1 기술 시스템의 좌표계와 상기 제 2 기술 시스템의 좌표계 간의 편차를 결정하는 단계를 포함한다.
