JOACHIM MATSCHNIGG,JOHANNES AGETHEN,MARIO KLAFKE,MARIO ABRAHAM
申请号：
BR112012020389
公开号：
BR112012020389A2
申请日:
2010.02.15
申请国别(地区):
BR
年份:
2016
代理人:
摘要：
method for determining deviations between coordinate systems of different technical systems, test object, and ophthalmic laser surgery device. The invention relates to a method for determining deviations between coordinate systems of various technical systems comprising the steps of determining a coordinate position of a reference feature (32) of a test object (26) in the coordinate system (u). v) of a first of the technical systems by applying at least one test characteristic (34) to the test object, wherein the test characteristic is applied to the coordinate system of a second of the technical systems in a coordinate position that is established according to the determined coordinate position of the reference characteristic (32), determine a coordinate position of at least one test characteristic (34) and / or at least one characteristic (36) derived from it in the coordinate system. first and second technical system at least on the basis of: (a) the determined coordinate position of at least one test characteristic (34) and / or at least one characteristic (36) derived from it in the coordinate system (u, v) of the first technical system, and b) the coordinate position of the reference characteristic (32) in the coordinate system (u, v) of the first technical system .método para determinar desvios entre sistemas de coo4rdenadas de diferentes sistemas técnicos, objeto de teste,e, dispositivo para cirurgia a laser oftalmológica. a invenção se refere a um método para determinar desvios entre sistemas de coordenadas de vários sistemas técnicos compreendendo as etapas de determinação de uma posição de coordenada de uma característica de referência (32) de um objeto de teste (26) no sistema de coordenada (u,v) de um primeiro dos sistemas técnicos, aplicando pelo menos uma característica de teste (34) ao objeto de teste, em que a característica de teste é aplicada no sistema de coordenadas de um segundo dos sistemas técnicos em uma posição de coordenada que é estabelec
