Es wird eine optische Sonde (2) zur optischen Untersuchung eines Objekts (1) beschrieben, die einen ersten optischen Strahlengang für ein scannendes bildgebendes Verfahren und einen zweiten optischen Strahlengang für ein spektroskopisches Verfahren aufweist. Die optische Sonde umfasst eine erste Lichtleitfaser (9) in dem ersten optischen Strahlengang, sowie eine Scanvorrichtung (10), die dazu eingerichtet ist, die erste Lichtleitfaser (9) oder ein aus der ersten Lichtleitfaser (9) austretende Beleuchtungslicht (31) zum Abtasten des Objekts (1) bei dem scannenden bildgebenden Verfahren lateral abzulenken. Die optische Sonde umfasst eine zweite Lichtleitfaser (11) in dem zweiten optischen Strahlengang, die dazu eingerichtet ist, ein Anregungslicht oder ein detektiertes Objektlicht für das spektroskopische Verfahren zu führen, und einen Strahlteiler-Filter (15), wobei der Strahlengang des scannenden bildgebenden Verfahrens und der Strahlengang des spektroskopischen Verfahrens mittels des Strahlteiler-Filters (15) in der Sonde (2) teilweise zur Überlappung gebracht werden. Die optische Sonde (2) weist einen Durchmesser von nicht mehr als 5 mm auf. Weiterhin wird ein Verfahren zum Betrieb der optischen Sonde (2) angegeben.An optical probe (2) for optically examining an object (1) is described, said optical probe having a first optical beam path for a scanning imaging method and a second optical beam path for a spectroscopic method. The optical probe comprises a first optical fibre (9) in the first optical beam path and a scanning apparatus (10) that is configured to laterally deflect the first optical fibre (9) or illumination light (31) emerging from the first optical fibre (9) for the purposes of scanning the object (1) during the scanning imaging method. The optical probe comprises a second optical fibre (11) in the second optical beam path, said second optical fibre being configured to guide excitation light or detected object light for the spectroscopic method, and
