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APPAREILS, SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR LA SUPPRESSION D'ARTEFACTS DANS DES ENREGISTREMENTS ÉLECTROMAGNÉTIQUES NON INVASIFS
专利权人:
UNIVERSITY OF WASHINGTON
发明人:
TAULU, Samu,LARSON, Eric
申请号:
USUS2019/047755
公开号:
WO2020/041621A1
申请日:
2019.08.22
申请国别(地区):
US
年份:
2020
代理人:
摘要:
Embodiments disclosed herein directed to systems, apparatuses, and methods for the suppression of artifacts in non-invasive electromagnetic recordings. A data set, such as an electroencephalography (EEG) or magnetoencephalography (MEG) data set may be recorded by a number of sensors. The data set may include contributions from a signal of interest and from artifacts. The contribution of artifacts may be suppressed by splitting the data set into projected data and residual data based on a spatial model of the signal of interest. The projected data may contain contributions from the signal of interest and artifacts, while the residual data may primarily contain contributions from artifacts. The projected and residual data may be compared to remove or reduce the contribution of artifacts from the projected data.Des modes de réalisation de la présente invention concernent des systèmes, des appareils et des procédés pour la suppression d'artefacts dans des enregistrements électromagnétiques non invasifs. Un ensemble de données, tel qu'un ensemble de données d'électro-encéphalographie (EEG) ou de magnéto-encéphalographie (MEG), peut être enregistré par une pluralité de capteurs. L'ensemble de données peut comprendre des contributions d'un signal d'intérêt et d'artefacts. La contribution des artefacts peut être supprimée par division de l'ensemble de données en données projetées et en données résiduelles sur la base d'un modèle spatial du signal d'intérêt. Les données projetées peuvent contenir des contributions du signal d'intérêt et des artefacts, tandis que les données résiduelles peuvent principalement contenir des contributions d'artefacts. Les données projetées et résiduelles peuvent être comparées pour éliminer ou réduire la contribution d'artefacts à partir des données projetées.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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