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DUAL ENERGY IMAGING SYSTEM
专利权人:
L-3 COMMUNICATIONS SECURITY AND DETECTION SYSTEMS; INC.
发明人:
OREPER, BORIS
申请号:
EP10772387
公开号:
EP2427112A4
申请日:
2010.05.07
申请国别(地区):
EP
年份:
2016
代理人:
摘要:
A dual energy inspection system that generates X-rays with an electron beam scanned over targets. A switchable voltage source that can be change its voltage output may cause X- rays to be generated at different energies. This X-ray generation subsystem is controlled by a sequencer that provides beam steering and shaping control inputs that may be dependent on the voltage provided by the voltage source. In another aspect, the dual energy inspection system may use multiple types of detectors, each sensitive to X-rays of a different energy. A relatively small number of detectors sensitive to one energy level is provided. Nonetheless, dual energy measurements may be made on objects within an item under inspection by identifying points that, for each object of interest, provide a low interference path to one of those detectors. Measurements made with radiation emanating from those points are used for dual energy analysis of those objects.Linvention concerne un système dinspection biénergie qui génère des rayons X avec un faisceau délectrons balayé sur des cibles. Une source de tension commutable qui peut modifier sa sortie de tension peut provoquer la génération de rayons X pour différentes énergies. Ce sous-système de génération de rayons X est contrôlé par un séquenceur qui fournit des entrées de guidage du faisceau et de contrôle de la mise en forme qui peuvent dépendre de la tension fournie par la source de tension. Dans un autre aspect, le système dinspection biénergie peut utiliser plusieurs types de détecteurs, chacun sensible aux rayons X dune énergie différente. Linvention concerne un nombre relativement petit de détecteurs sensibles à un niveau dénergie. Néanmoins, des mesures biénergie peuvent être effectuées sur des objets dans un élément soumis à une inspection en identifiant des points qui, pour chaque objet dintérêt, fournissent un chemin à faible interférence vers lun de ces détecteurs. Des mesures effectuées avec un rayonnement émanant de ces points sont
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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