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一种基于DGT同步测定8种氧化型阴离子的方法
专利权人:
中国科学院南京地理与湖泊研究所
发明人:
丁士明
申请号:
CN201610465109.1
公开号:
CN106198319A
申请日:
2016.06.23
申请国别(地区):
中国
年份:
2016
代理人:
韩朝晖
摘要:
一种基于DGT技术同步测定八种氧化型阴离子的方法,包括P(V)、As(V)、Cr(VI)、Mo(VI)、Sb(V)、Se(VI)、V(V)和W(VI),基于薄膜扩散梯度原理,采用二氧化锆聚丙烯酰胺凝胶薄膜(Zr‑oxide膜)为固定膜,与扩散膜、渗透膜组装成DGT装置,固定膜上积累的8种阴离子采用温和的混合溶液0.2M NaOH‑0.5M H2O2进行一步洗脱,洗脱时间为3–5h,测定固定膜中8种氧化型阴离子的积累量,根据Fick第一扩散定律计算得到8种氧化型阴离子的浓度。本发明将Zr‑oxide膜用于8种氧化型阴离子的同步测定,具有DGT容量高、抗干扰能力强的特点,扩展了阴离子DGT测定的种类和同步测定的数量;提取方法避免了现有洗脱剂H2O2浓度过高对磷测定产生的干扰,可显著提高洗脱效率、缩短洗脱时间并降低阴离子DGT测定的检测限,分析效率和准确性大大提高。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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