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一种阵列断裂电极的免疫检测装置和应用
专利权人:
南京大学;南通明芯微电子有限公司
发明人:
潘建斌,徐静娟,周明,陈洪渊
申请号:
CN201410164371.3
公开号:
CN103913571B
申请日:
2014.04.22
申请国别(地区):
中国
年份:
2016
代理人:
黄嘉栋
摘要:
本发明公开了一种阵列断裂电极的免疫检测装置和方法,该装置和方法以芯片为分析平台以阵列断裂电极为检测电极,标记有贵金属纳米粒子的针对分析物的抗体在检测电极的间隙处形成二元或三元免疫复合物,银增强溶液在贵金属纳米粒子的催化作用下形成银沉积,形成具有不同阻抗的电极以形成不同的光电流信号,进而对待测物进行定量测量。本发明装置信号稳定、可比性强、灵敏度高、激发光波长和光电活性材料可选范围大,可以实现通量化分析。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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