光学吸收系数的超声确定
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- D·萨维里,L·詹科维克,A·阿南德
- 申请号：
- CN200780036455.7
- 公开号：
- CN101523203B
- 申请日:
- 2007.09.18
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及检查设备和方法，其用于确定物体中的光学系数，特别是光学吸收系数。该设备包括超声扫描仪，其用于在利用来自光源的加热光束照射物体之前和之后记录第一和第二脉冲回波。评价单元基于第二和第一脉冲回波之间出现的表观位移确定由物体内部的加热光束造成的温度升高图。此外，物体内局部邻近的温度升高的评价允许确定有效散射系数图，根据该图可以计算物体内部的光强分布。最后，可以根据测量位置处的光强和温度升高确定该位置处的希望的光学吸收系数。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
