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基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法
专利权人:
华中农业大学
发明人:
介邓飞,兰江风,魏萱
申请号:
CN201510644358.2
公开号:
CN105158178A
申请日:
2015.10.08
申请国别(地区):
中国
年份:
2015
代理人:
黄瑞棠
摘要:
本发明公开了一种基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法,涉及水果内部品质无损检测技术领域。方法是:①获取脐橙样品半透射高光谱图谱;②利用化学方法测定脐橙样品的糖度值;③选取脐橙样品平均高光谱图谱;④计算高光谱图谱谱峰面积;⑤建立脐橙样品糖度预测模型,进行品质检测。本发明基于高光谱技术通过半透射方式采集脐橙样品高光谱图谱可以有效获取脐橙内部品质信息,提高水果内部品质的检测水平和检测效率;该建模法建模效率高、准确率高,模型运算速度快,可以快速检测水果的糖度内部品质指标,对水果的内部品质进行评价。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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