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細隙灯顕微鏡
专利权人:
TOPCON CORP
发明人:
YAMAMOTO SATOSHI,山本 諭史
申请号:
JP2017140791
公开号:
JP2017185367A
申请日:
2017.07.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit lamp microscope capable of acquiring wide range images of an eye to be examined.SOLUTION: The slit lamp microscope comprises an illumination system, an imaging system, and an image synthesis unit. The illumination system illuminates an eye to be examined with slit light. The imaging system guides, to an imaging device, the light of the slit light returned from the eye to be examined. The image synthesis unit synthesizes a plurality of images acquired by the imaging device to form a three-dimensional image of the eye to be examined.SELECTED DRAWING: Figure 3COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】被検眼の広域の画像を取得することが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】実施形態に係る細隙灯顕微鏡は、照明系と、撮影系と、画像合成部とを含む。照明系は、被検眼を細隙光で照明する。撮影系は、被検眼からの細隙光の戻り光を撮像装置に導く。画像合成部は、撮像装置により取得された複数の画像を合成して被検眼の3次元画像を形成する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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