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Method for determining an artifact-reduced three-dimensional image data set and X-ray device
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Yiannis Kyriakou
申请号:
DE102012205222
公开号:
DE102012205222A1
申请日:
2012.03.30
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Verfahren zur Ermittlung eines artefaktreduzierten, dreidimensionalen, unter Berücksichtigung einer Mehrzahl von unter unterschiedlichen Projektionsrichtungen mit einer Röntgeneinrichtung (43), insbesondere einer Röntgeneinrichtung (43) mit einem C-Bogen (44), aufgenommenen Projektionsbildern eines Hauptdatensatzes (7), die einen Kopf (1) eines Patienten gemeinsam mit wenigstens einer neurochirurgischen, Artefakte bei einer dreidimensionalen Rekonstruktion erzeugenden Vorrichtung zeigen, rekonstruierten Bilddatensatzes (26), wobei im Hinblick auf die Reduzierung der Artefakte eine projektionsbildbasierte Korrektur unter Berücksichtung von Projektionsbilddaten der Projektionsbilder eines Maskendatensatzes (9, 9’) erfolgt, die die neurochirurgische Vorrichtung ohne den Kopf (1) oder den Kopf (1) ohne die neurochirurgische Vorrichtung zeigen.Method for determining an artifact-reduced, three-dimensional projection image of a main data set (7) which, taking into account a plurality of projection directions with an X-ray device (43), in particular an X-ray device (43) with a C-arm (44), has a head (FIG. 1) of a patient together with at least one neurosurgical artifact showing artefacts in a three-dimensional reconstruction reconstructed image data set (26), with a view to reducing the artifacts a projection image based correction taking into account projection image data of the projection images of a mask data set (9, 9 ') is performed, which show the neurosurgical device without the head (1) or the head (1) without the neurosurgical device.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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