基于KLEE的软件漏洞测试用例自动生成技术

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作   者：

黄琦;  蔡爱华;  吕慧颖;  彭武;  王冬海;  陈君华; 

作者机构：

电子科技大学电子科学技术研究院;  首都师范大学管理学院;  中国电子科技集团公司电子科学研究院;  云南民族大学云南省高校物联网应用技术重点实验室; 

关键词：

改进的遗传算法;  KLEE;  测试用例;  软件漏洞挖掘;  约束求解; 

期刊名称：

计算机工程与设计

i s s n：

1000-7024

年卷期：

2016 年 06 期

页   码：

1515-1519+1525

摘   要：

为解决KLEE中STP求解器无法对非线性求解约束条件求解的问题,将改进的遗传算法应用于KLEE中自动生成软件漏洞测试用例。通过改进遗传算法,将其应用于求解非线性方程并编程实现求解模块;通过KLEE的改进,让其能够调用遗传算法求解模块与STP求解器共同运行;通过接口的对接,完成KLEE中两个求解模块的并行运行,自动生成软件漏洞的测试用例。对比实验自动生成测试用例数据与原来KLEE的求解数据,对比结果表明了改进的遗传算法可应用于KLEE自动生成测试用例,其具有可行性、正确性、有效性。