采用Rietveld精修,谢乐公式以及Williamson-Hall法分析不同煅烧温度TiO₂的晶粒尺寸

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作   者：

刘娟丽;  吴蓉;  祖一丹;  肖家逊;  张斌;  邹函君; 

作者机构：

重庆大学分析测试中心;  重庆大学化学化工学院; 

关键词：

X射线衍射;  谢乐公式;  Rietveld精修;  W-H法; 

期刊名称：

化工管理

i s s n：

年卷期：

2023 年 013 期

页   码：

151-155

摘   要：

二氧化钛（TiO2）具有无毒、成本低、光氧化能力强、物理化学稳定性好等特性，目前被认为是最有前途的半导体材料之一。文章采用了简便的水热法合成了TiO2纳米颗粒，并经过不同的煅烧温度处理得到目标样品，采用XRD、TEM等测试及粒径分布统计对样品进行了表征。分析结果表明煅烧温度对TiO2物相的组成、结晶性和晶粒尺寸有重要的影响。同时，比较Rietveld精修、传统的谢乐公式和W-H方法对TiO2的平均晶粒尺寸分析，结果表明这三种方法得到TiO2的晶粒尺寸大小比较符合，且随着煅烧温度的升高而增大。通过TEM进一步验证了随温度的升高，TiO2的晶粒尺寸和形貌也呈规律性变化。