椭圆弯晶谱仪分析器研制

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作   者：

施军;  肖沙里;  雷小明;  徐东镪;  张世欣; 

作者机构：

重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室; 

关键词：

分辨率;  弯晶分析器;  晶体谱仪;  积分反射率; 

期刊名称：

仪器仪表学报

基金项目：

高温等离子体极化x射线谱学研究

i s s n：

0254-3087

年卷期：

2008 年 05 期

页   码：

982-985

摘   要：

针对激光惯性约束核聚变辐射的X射线分析,可得到关于等离子体电子密度、温度、电荷分布等重要信息。研究的X射线弯晶谱仪分析器是用来诊断X射线光谱,进而实现对激光惯性约束核聚变的控制。探讨了椭圆弯晶谱仪理论原理,分析了积分反射率和质量吸收系数。弯晶谱仪采用LiF弯晶分析器,椭圆焦距2c为1350mm,椭圆离心率e为0.9586,晶体布拉格角范围为30°至60°。在此对LiF弯晶分析器的制作工艺进行详细描述。实验结果表明,该晶体分析器对X射线的分辨率(λ/Δλ)可达900以上,能够用来对激光等离子体的X射线光谱进行诊断。