基于TDDB的数字隔离器寿命测试系统

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作   者：

李梓腾;  王进军;  陈炫宇;  王凯; 

作者机构：

陕西科技大学电子信息与人工智能学院;  西安翔腾微电子科技有限公司;  陕西科技大学 电子信息与人工智能学院; 

关键词：

栅氧化层击穿;  可靠性评估;  数字隔离器;  寿命测试;  回路电流监测;  经时击穿; 

期刊名称：

现代电子技术

i s s n：

1004-373X

年卷期：

2025 年 48 卷 006 期

页   码：

39-44

摘   要：

为评估数字隔离器在长期使用过程中的稳定性和寿命，提出一种基于经时击穿（TDDB）的寿命测试系统，通过自动化和多路并行测试来提升测试效率。具体方法包括设计一个支持16路同时进行测试的系统，使用DSP控制程序和上位机软件进行数据处理，并通过增加电压应力来加速老化测试。实验结果表明：该系统能够在检测到失效时立即终止测试，并自动记录失效时间；同时通过模拟工作电压环境，提高了测试结果的可靠性。与传统方法相比，所设计系统显著减少了人工干预，提高了测试效率和可靠性，并且能够提前预警潜在故障，为电气系统的稳定运行提供了有力保障。该研究对于提高数字隔离器的可靠性和寿命，以及保障电气系统的安全运行具有一定的理论和实践意义。