浅析高数值孔径对STED超分辨显微成像的影响

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作   者：

时金蒙;  张会芳;  郝振莉; 

作者机构：

黄河水利职业技术学院; 

关键词：

分辨率;  焦深;  高数值孔径;  景深;  STED显微镜; 

期刊名称：

中国新技术新产品

i s s n：

1673-9957

年卷期：

2023 年 006 期

页   码：

25-28

摘   要：

数值孔径是显微成像和光纤应用领域的重要概念,孔径的大小对传统光学显微镜成像效果具有重要作用.在其他技术参数一定的情况下,数值孔径越大,显微镜成像分辨率越高.因为受到光的衍射作用的限制,所以传统光学显微镜的分辨率不可能无限制增大,最多只能分辨到200 nm.为了突破这一限制,STED超分辨率显微镜被研制并广泛应用,将分辨能力提高到50 nm.数值孔径对STED超分辨率显微镜的影响不能简单套用传统显微镜的相关研究成果,必须从STED超分辨率显微镜本身的性质出发,有针对性地进行分析.该文以高数值孔径对STED超分辨率显微成像的影响为主题,从简要论述STED超分辨率显微镜概况入手,从有利影响和不利影响2个层面进行深入分析,并将该领域的研究从定性分析拓展到定量研究领域,理论上可以达到纳米级甚至更小的程度.