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同步整流电路中SGT MOSFET尖峰震荡的优化设计
- 作 者:
-
商世广;
王洋菲;
马一洁;
刘厚超;
段兵青;
- 作者机构:
-
西安邮电大学电子工程学院;
上海维安半导体有限公司;
- 关键词:
-
热氧结构;
湿法刻蚀;
同步整流电路;
电压尖峰震荡;
屏蔽栅沟槽型场效应晶体管;
- 期刊名称:
- 西安邮电大学学报
- i s s n:
- 2095-6533
- 年卷期:
-
2024 年
29 卷
02 期
- 页 码:
- 64-73
- 摘 要:
-
针对同步整流电路中屏蔽栅沟槽型场效应晶体管(Shielded Gate Trench Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor, SGT MOSFET),在工艺加工过程中形成的热氧结构导致控制栅极电压尖峰震荡幅度大、电路能量转换效率低等问题,提出了一种SGT MOSFET电压尖峰震荡的优化设计。采用电路仿真的方法,以分析电容对电路电压开关震荡的影响;采用拉偏结构参数的方法,以确定器件的工艺参数;采用增加湿法刻蚀屏蔽栅多晶硅和注入多晶硅两道工艺的方法,以消除热氧结构,减小器件电容,从而减小器件在电路中的电压尖峰震荡幅度和时间,提升电路的能量转换效率。实验结果表明,优化设计后的栅漏电容减小了约43%,控制栅极电压的尖峰震荡降低了约56%,电路能量转换效率提升了约4.6%,器件剖面扫描电镜(Scanning Electron Microscope, SEM)图表明,所提设计方法可以消除SGT MOSFET的热氧结构。
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