基于STM32的纸张破漏检测系统研究

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作   者：

刘浩捷;  杨海马;  李筠;  谌佳宁;  何江;  丁毅凡;  张大伟; 

作者机构：

上海理工大学光电信息与计算机与工程学院;  上海理工大学中德国际学院; 

关键词：

光敏电阻;  STM32;  纸张漏洞;  LM393; 

期刊名称：

电子测量技术

基金项目：

线性文化遗产旅游空间生产的过程、效应与机制研究——以京杭大运河江浙段为例

i s s n：

1002-7300

年卷期：

2020 年 018 期

页   码：

141-145

摘   要：

提高造纸行业的生产质量和生产效率,实时准确地检测原料纸的漏洞和破损,对于纸张生产企业十分重要.纸张破漏检测系统以STM32作为主控制器,采集纸张生产中的参数信息,由光敏电阻和LM393组成线阵传感器,检测纸张生产过程中出现的破漏缺陷.系统通过光敏传感器的返回值实时刷新内部参数,反应纸张的透光情况和动态变化,实现对纸张破漏的检测和报警.设计系统经实际测试表明,检测过程具有快速、稳定的性能,可以实现纸张破漏的实时检测,对提高生产自动化有较大帮助.