基于Markov链的FSM容软错误设计

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作   者：

曹源;  梁华国;  黄正峰;  陈秀美;  吴珍妮; 

作者机构：

合肥工业大学电子科学与应用物理学院;  合肥工业大学计算机与信息学院; 

关键词：

Markov链模型;  软错误;  状态概率;  状态冗余; 

期刊名称：

宇航学报

基金项目：

控制器的内建自恢复与内建自测试研究
数字VLSI电路测试技术研究

i s s n：

1000-1328

年卷期：

2011 年 032 卷 03 期

页   码：

665-670

摘   要：

随着深亚微米工艺的广泛应用,持续攀升的软错误率对宇航设备的电路可靠性造成了极大影响。针对现有冗余防护技术面积开销大的不足,将概率统计的思想运用到有限状态机(FSM)的软容错设计上,提出了选择部分状态冗余的容错方法。在Markov链模型的基础上,计算出各状态概率,从而为状态冗余提供依据。与未经选择状态冗余的电路相比,以平均增加14.9%的面积开销为代价,这种电路可屏蔽87.6%的时序逻辑单翻转(SEU)。