痕量气体光谱法检测用半导体激光器温度控制电路

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作   者：

谭中奇;  龙兴武;  李发明; 

作者机构：

国防科技大学; 

关键词：

痕量气体检测;  半导体激光器;  MAX1978;  PID; 

期刊名称：

仪器仪表学报

i s s n：

0254-3087

年卷期：

2006 年 S3 期

页   码：

1909-1910

摘   要：

本文介绍一种半导体激光器温度控制电路及其辅助调试电路(含软件),电路采用Peltier模块集成温度控制器MAX1978,温控精度约为0．02℃,该电路用于痕量气体光谱法检测系统。