基于高光谱技术检测苹果外观缺陷

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作   者：

赵娟;  彭彦昆;  赵松玮;  宋育霖; 

作者机构：

中国农业大学工学院; 

关键词：

苹果;  主成分分析法;  波段比算法;  外观缺陷;  高光谱; 

期刊名称：

食品安全质量检测学报

基金项目：

i s s n：

2095-0381

年卷期：

2012 年 3 卷 06 期

页   码：

681-684

摘   要：

目的利用高光谱技术检测苹果外观缺陷,分析主成分分析法和波段比率算法研究高光谱图像的可行性。方法在400～1100nm波长范围内获取苹果表面的高光谱图像信息,用主成分分析法处理高光谱下采集的苹果图像,选取第三主成分图像进行分析,作为最后的判别依据。波段比率算法中选取了717nm和530nm两个有效波段,将两个波段的图像进行比值运算。717nm波段的图像进行阈值运算、中值滤波及形态学分析得到二值化掩膜图像,再与二值化后的比率图像进行布尔运算,提取缺陷的有效信息。结果基于主成分分析法,检测苹果表面缺陷的分级准确率为81.25%,波段比率算法对苹果表面缺陷的分级准确率为93.75%。结论利用高光谱成像技术下波段比率算法相对于主成分分成法更适合于实时、在线、快速检测。