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X-射线曝光区域调节方法、存储介质和X-射线系统
专利权人:
上海西门子医疗器械有限公司
发明人:
赫伟
申请号:
CN201710358487.4
公开号:
CN108937975A
申请日:
2017.05.19
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本发明提供一种X‑射线曝光区域调节方法、存储介质和X‑射线系统。根据一实施方式,X‑射线曝光区域调节方法包括:对待测对象的状态进行实时监控,并在待测对象的状态满足预设条件时获取所述待测对象的初始图像;确定所述初始图像中的感兴趣区域;以及基于所述感兴趣区域的信息设置所述X‑射线曝光区域。本发明能够实现根据待检对象自动调节X‑射线系统中曝光区域,不仅便于操作、提高检查效率,而且能够避免患者受到不必要的辐射。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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