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Verfahren zur Magnetresonanz-Thermometrie und Magnetresonanz-Anlage
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Patrick Gross
申请号:
DE102013204880
公开号:
DE102013204880A1
申请日:
2013.03.20
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Verschiedene Ausführungsformen betreffen Magnetresonanz-Thermometrie auf Grundlage von ersten und zweiten Magnetresonanz-Daten (501, 502), die sequentiell erfasst werden und aus denen eine Phasenverschiebung zwischen einer Mess- und einer Referenzphase bestimmt wird. In einem ersten Bereich (251) einer Untersuchungsperson (101) wird die Messphase aus den zweiten Magnetresonanz-Daten (502) bestimmt und die Referenzphase aus den ersten Magnetresonanz-Daten (501). In einem zweiten Bereich (252) der Untersuchungsperson (101) wird sowohl die Referenz- als auch die Messphase aus den zweiten Magnetresonanz-Daten (502) bestimmt. Es können Techniken der referenz-basierten Magnetresonanz-Thermometrie und der referenz-freien Magnetresonanz-Thermometrie Anwendung finden.Various embodiments relate to magnetic resonance-thermometry on the basis of first and second magnetic resonance-data (501, 502), said sequentially can be detected and from which a phase shift between a measuring and a reference phase is determined. In a first region (251) of a person being examined (101), the measuring phase from the second magnetic resonance-data (502) are determined and the reference phase of the first magnetic resonance-data (501). In a second region (252) of the attending personnel (101), both the reference as well as the measuring phase from the second magnetic resonance-data (502). It is possible to use techniques of reference-based magnetic resonance-thermometry be used and the reference-free magnetic resonance-thermometry.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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