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GAZE TRACKING VARIATIONS USING VISIBLE LIGHTS OR DOTS
专利权人:
SONY COMPUTER ENTERTAINMENT INC.
发明人:
LARSEN, Eric J.
申请号:
USUS2014/057006
公开号:
WO2015/048030A1
申请日:
2014.09.23
申请国别(地区):
WO
年份:
2015
代理人:
摘要:
Implementations of the present disclosure may include calibration techniques for systems which include eye tracking devices and display devices. The calibration techniques may involve a calibration process which utilizes a plurality of visible calibration targets that each defines a gaze point for a user. The calibration targets may include both targets output to the display device, as well as gaze points located on the eye tracking device itself. The calibration techniques may also include additional sensors on the eye tracking device to gather additional calibration information, such as a back-facing camera which captures images of the display device from the eye tracking device. Increased information regarding system setup that is useful in calibrating the eye tracking system may be obtained from the calibration process.Selon des modes de réalisation, la présente invention concerne des techniques détalonnage pour des systèmes comprenant des dispositifs de suivi oculaire et des dispositifs daffichage. Les techniques détalonnage peuvent impliquer un traitement détalonnage qui utilise une pluralité de cibles détalonnage visibles, définissant chacune un point de regard pour un utilisateur. Les cibles détalonnage peuvent comprendre aussi bien des cibles émises sur le dispositif daffichage que des points de regard situés sur le propre dispositif de suivi oculaire. Les techniques détalonnage peuvent également comprendre des capteurs supplémentaires sur le dispositif de suivi oculaire en vue de rassembler des informations détalonnage supplémentaires, tels quune caméra orientée vers larrière qui capture des images du dispositif daffichage à partir du dispositif de suivi oculaire. Davantage dinformations concernant la configuration du système qui sont utiles pour étalonner le système de suivi oculaire peuvent être obtenues à partir du traitement détalonnage.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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