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IMPEDANCE MEASUREMENT PROCESS
专利权人:
发明人:
申请号:
HK11112547.0
公开号:
HK1158477A
申请日:
2011.11.18
申请国别(地区):
HK
年份:
2012
代理人:
摘要:
Apparatus for use in performing impedance measurements on a subject, the apparatus including a probe having a plurality of electrodes, the probe being configured to allow at least some of the electrodes to be in contact with at least part of the subject and a processing system for, determining at least one first impedance value, measured at a site using a first electrode configuration, determining at least one second impedance value, measured at the site using a second electrode configuration and determining an indicator indicative of the presence, absence or degree of an anomaly using the first and second impedance values.Linvention porte sur un appareil destiné à lutilisation dans la réalisation de mesures dimpédance sur un sujet, lappareil comprenant une sonde comportant une pluralité délectrodes, la sonde étant configurée de façon à permettre à au moins certaines des électrodes dêtre en contact avec au moins une partie du sujet, et un système de traitement destiné à déterminer au moins une première valeur dimpédance, mesurée en un site à laide dune première configuration délectrodes, et à déterminer au moins une seconde valeur dimpédance, mesurée au même site en utilisant une seconde configuration délectrodes et déterminer un indicateur indiquant la présence, labsence ou le degré dune anomalie à laide des première et seconde valeurs dimpédance.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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