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SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE MESURE OPTIQUE AVEC AJUSTEMENTS D'ABERRATION CHROMATIQUE PERSONNALISÉS
专利权人:
LLC;AMO WAVEFRONT SCIENCES
发明人:
COPLAND, Richard J.,NEAL, Daniel R.,RAYMOND, Thomas D.,FARRER, Stephen W.
申请号:
USUS2016/054861
公开号:
WO2017/059291A1
申请日:
2016.09.30
申请国别(地区):
US
年份:
2017
代理人:
摘要:
An optical measurement system method for measuring a characteristic of a subject's eye use a probe beam having an infrared wavelength in the infrared spectrum to measure a refraction of the subject's eye at the infrared wavelength; capture at least two different Purkinje images at two different corresponding wavelengths from at least one surface of the lens of the subject's eye; determine from the at least two different Purkinje images a value for at least one parameter of the subject's eye; use the value of the at least one parameter to determine a customized chromatic adjustment factor for the subject's eye; and correct the measured refraction of the subject's eye at the infrared wavelength with the customized chromatic adjustment factor to determine a refraction of the subject's eye at a visible wavelength in the visible spectrum.La présente invention concerne un système et un procédé de mesure optique pour mesurer une caractéristique d'un œil d'un sujet qui utilisent un faisceau de sonde ayant une longueur d'onde infrarouge dans le spectre infrarouge pour mesurer une réfraction de l'œil du sujet à la longueur d'onde infrarouge ; capturer au moins deux différentes images de Purkinje à deux longueurs d'onde correspondantes différentes d'au moins une surface du cristallin de l'œil du sujet ; déterminer à partir des au moins deux images de Purkinje différentes une valeur pour au moins un paramètre de l'œil du sujet ; utiliser la valeur de l'au moins un paramètre pour déterminer un facteur d'ajustement chromatique personnalisé pour l'œil du sujet ; et corriger la réfraction mesurée de l'œil du sujet à la longueur d'onde infrarouge avec le facteur d'ajustement chromatique personnalisé pour déterminer une réfraction de l'œil du sujet à une longueur d'onde visible dans le spectre visible.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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