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How to identify patients with schizophrenia who are at risk for recurrence
专利权人:
얀센 파마슈티카 엔.브이.
发明人:
베이커 수잔,왕 다이,고팔 스리하리,나라얀 바이하브,새비츠 아담
申请号:
KR1020197017879
公开号:
KR1020190086524A
申请日:
2017.11.21
申请国别(地区):
KR
年份:
2019
代理人:
摘要:
The present invention provides a method for identifying schizophrenia patients at risk for recurrence. The present invention also provides a method for early detection of schizophrenic relapse. The disclosed method uses symptom monitoring according to a subset of Positive and Negative Syndrome Scale (PNASS) parameters. The methods of the present invention can be used to provide early intervention to reduce or prevent recurrence in schizophrenia patients.본 발명은 재발에 대한 위험이 있는 정신분열증 환자를 확인하는 방법을 제공한다. 본 발명은 또한 정신분열성 재발의 조기 검출 방법을 제공한다. 개시된 방법은 양성 및 음성 증후군 척도(PNASS) 파라미터의 서브세트에 따라 증상 모니터링을 사용한다. 본 발명의 방법은 정신분열증 환자에서 재발을 감소시키거나 예방하기 위한 조기 중재를 제공하기 위해 사용될 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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