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一种基于磁探测电阻抗成像的测量系统
专利权人:
天津工业大学
发明人:
陈瑞娟,戚昊峰,王慧泉,王金海,冯彦博
申请号:
CN201721339749.4
公开号:
CN207912687U
申请日:
2017.10.17
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本实用新型提供一种基于磁探测电阻抗成像的测量系统,将待检测物体放置于测量平台上,测量平台由电机带动,可以控制转动速度、转动角度,传感器为一系列纵向分布的磁感应线圈,用于测量在激励电流作用下待测物体周围产生的磁感应强度。本实用新型克服了传统测量系统中手动放置电极位置不精确的缺点,改善了传统测量系统中测量信息不规律的限制,不仅具有测量精度高、测量速度快、测量数据可靠性高等优点,更重要的是通过电机带动测试平台进而带动待检测物体的转动实现了磁探测电阻抗成像的自动测量,丰富了对磁场分布测量的信息量,进而改善传统电阻抗成像重建图像的病态性,提高了图像重建质量。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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