光学断层成像设备及其控制方法
- 专利权人:
- 佳能株式会社
- 发明人:
- 小峰功,青木博,吉田拓史,坂川幸雄,井上宏之
- 申请号：
- CN201410042757.7
- 公开号：
- CN103961057A
- 申请日:
- 2014.01.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了光学断层成像设备及其控制方法。该光学断层成像设备控制单元，被配置用于在用于缩窄成像范围的指令被发出的情况下控制测量光光路长度改变单元以缩小测量光的光路长度，并且使得与用于扩展成像范围的指令被发出的情况相比测量光的光路长度的改变速度更低。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
