光学相干层析设备的诊断检测方法、装置、系统
- 专利权人:
- 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 发明人:
- 安其昌,刘欣悦,张景旭,李洪文,唐境
- 申请号：
- CN202010529679.9
- 公开号：
- CN111568385A
- 申请日:
- 2020.06.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种光学相干层析设备的诊断检测方法，包括连续采集光学相干层析设备输出的多个干涉条纹数据；各个干涉条纹数据是光学相干层析设备的测量臂的光路上设置分别不同掩膜板时，光学相干层析设备对应生成的条纹数据；根据各个干涉条纹数据，获得待测人体组织的切片图像。本申请中将分别采用不同透光面积的掩模板设置在测量臂和待测人体组织之间的位置，以抑制外界环境对干涉条纹产生的不同强度扰动，光学系统获取信息的能力、提高所获得的人体组织切片检测图像的信噪比。本申请还提供了一种光学相干层析设备的诊断检测装置及系统，具有上述有益效果。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
