磁共振成像设备和用于检测磁共振成像设备的差错的方法
- 专利权人:
- 三星电子株式会社
- 发明人:
- 金珍燮,拉格哈维德拉.普蒂
- 申请号：
- CN201780007219.6
- 公开号：
- CN108471984A
- 申请日:
- 2017.01.16
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 提供了一种磁共振成像(MRI)设备和检测MRI设备的差错的方法。MRI设备包括:射频(RF)线圈,被配置为发送和接收RF信号;偏置电路,被配置为对RF线圈进行调谐和解调谐;监测电路,被配置为基于监测模式监测偏置电路的偏置电压和偏置电流之中的参数。MRI设备还包括:控制器,被配置为基于确定标准和被监测的参数来确定偏置电路是否处于异常状态,并且所述监测模式和所述确定标准中的一个或两者基于偏置电路的状态而变化。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
