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Method for a computed tomography device to reduce the load on a component, computer program, data medium, and computed tomography device
专利权人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人:
GABRIEL HARAS
申请号:
BRPI1105572
公开号:
BRPI1105572A2
申请日:
2011.12.05
申请国别(地区):
BR
年份:
2015
代理人:
摘要:
Method for a computed tomography device for reducing the load on a component. Computer program, data medium and computed tomography device. The invention relates to a method for a computed tomography device (1) for reducing the load on at least one technical component (6) of the computed tomography device (1) during operation of the at least one technical component (6). wherein for at least one CT scan (1) scanning parameter affecting at least one technical component (6), an extreme value is defined, the method being an operating mode for the CT scan ( 1), wherein the adjustable value for at least one scanning parameter affecting the at least one technical component (6) is limited to a certain percentage below or above the extreme value for operation of the at least one technical component (6). ). The invention also relates to a computer program (15) implementing the method, a data medium (16, 17) containing the computer program (15) and a computed tomography device (1) provided with the program. computing (15).Método para um dispositivo de tomografia computadorizada para a redução da carga em um componente. Programa de computador, meio de dados e dispositivo de tomografia computadorizada. A invenção refere-se a um método para um dispositivo de tomografia computadorizado (1) para reduzir a carga sobre pelo menos um componente técnico (6) do dispositivo de tomografia computadorizado (1) durante a operação do pelo menos um componente técnico (6), em que para pelo menos um parâmetro de escaneamento do dispositivo de tomografia computadorizado (1) que afeta o pelo menos um componente técnico (6), um valor extremo é definido, o método sendo um modo de operação para o dispositivo de tomografia computadorizado (1), em que o valor ajustável para o pelo menos um parâmetro de escaneamento que afeta o pelo menos um componente técnico (6) é limitado a uma certa percentagem abaixo ou acima do valor extremo para a operação do pelo menos um componente técnico (6). A invenção també
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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