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眼等の層システムにおける蛍光を正確にプロットするための方法
专利权人:
ハイデルベルク・エンジニアリング・ゲー・エム・ベー・ハー
发明人:
シュワイツァー,ディートリッヒ
申请号:
JP2011524179
公开号:
JP5542821B2
申请日:
2009.09.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
Manner in order to plot the fluorescence in formation system such as eye accurately. As for purpose of this invention, the fluorescence in the formation system at the same time as much as possible simply there are times when manner in order with little labor to evaluate is offered, they can evaluate the comprehensive attenuation behavior of fluorescence very accurately with the said manner, they are possible at the same time to presume the generation place of individual fluorescence of the formation system simultaneously. If you follow this invention, the formation unique time dependancy parameter which start time of the fluorescence in the respective formation concerning the fluorescence in the individual formation of the formation system, is shown is sought, origin of the fluorescence in the individual formation of the formation system by considering in the model function in order to calculate the comprehensive attenuation behavior of fluorescence, (tc) is respectively decided. This invention is applied to the analysis of the body which possesses, layer system such as biology and medical science and production engineering.< Choice figure >Drawing 2眼等の層システムにおける蛍光を正確にプロットするための方法。本発明の目的は、層システムにおける蛍光を可能な限り簡便に且つ少ない労力で評価するための方法を提供することにあり、該方法により蛍光の総合的な減衰挙動を非常に正確に評価することができ、且つ同時に層システムの個々の蛍光の発生場所を推定することができる。本発明に従えば、層システムの個々の層における蛍光について、それぞれの層における蛍光の開始時間示す層特異的時間依存性パラメータを求め、蛍光の総合的な減衰挙動を計算するためのモデル関数において考慮することによって、層システムの個々の層における蛍光の起点(tci)がそれぞれ決定される。本発明は、生物学や医学、生産工学等、層構造を有する物体の分析に応用される。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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