您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Procédé d'étalonnage et de fonctionnement d'un dispositif destiné à enregistrer la géométrie tridimensionnelle d'objets
专利权人:
a.tron3d GmbH
发明人:
申请号:
EP15450004.5
公开号:
EP2902742A1
申请日:
2015.01.26
申请国别(地区):
EP
年份:
2015
代理人:
摘要:
Bei einem Verfahren zum Betreiben einer Vorrichtung zum optischen Erfassen der dreidimensionalen Geometrie von Objekten (16), werden optische Eigenschaften von optischen Elementen (11, 12, 13, 14) der Vorrichtung (4) vor dem Erfassen gemessen und auf einem Speichermedium hinterlegt, wodurch ein erstes Kalibrierdatenset erzeugt wird. Das erste Kalibrierdatenset wird während des Erfassens der dreidimensionalen Geometrie des Objektes (16) verwendet, um durch die optischen Elemente (11, 12, 13, 14) aufgenommene und/oder projizierte zweidimensionale Oberflächencharakteristika des Objektes (16) rechnerisch zu entzerren. Zusätzlich wird ein zweites Kalibrierdatenset durch das Messen der optischen Eigenschaften der optischen Elemente (11, 12, 13, 14) erzeugt, nachdem wenigstens eine transparente Schicht (2) einer ersten Art wenigstens teilweise in einem Strahlengang (15) der optischen Elemente (11, 12, 13, 14) angeordnet oder ausgetauscht wurde. Das zweite Kalibrierdatenset wird verwendet, um die während des Erfassens der dreidimensionalen Geometrie des Objektes (16) durch die optischen Elemente (11, 12, 13, 14) aufgenommenen und/oder projizierten zweidimensionalen Oberflächencharakteristika des Objektes (16) rechnerisch zu entzerren, wenn wenigstens eine transparente Schicht (2) der ersten Art wenigstens teilweise im Strahlengang (15) der optischen Elemente (11, 12, 13, 14) angeordnet ist.In a method of operating a device for optically detecting the three-dimensional geometry of objects (16), optical properties of optical elements (11, 12, 13, 14) of the device (4) are measured prior to detection and deposited on a storage medium, thereby a first calibration data set is generated. The first calibration data set is used during the detection of the three-dimensional geometry of the object (16) in order to computationally equalize two-dimensional surface characteristics of the object (16) recorded and / or projected by the optical elements (11, 12, 13, 14). In addition, a s
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充