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物体观测装置和物体观测方法
专利权人:
株式会社国际电气通信基础技术研究所
发明人:
下川丈明,小阪卓史,山下宙人,佐藤雅昭
申请号:
CN201380019342.1
公开号:
CN104220007B
申请日:
2013.04.04
申请国别(地区):
CN
年份:
2016
代理人:
摘要:
原本无法高精度地估计物体内部的局部性的光学特性变化部位。通过如下的物体观测装置能够将物体内部的局部性的光学特性变化部位高精度地估计为三维信息,该物体观测装置具备:光强度信息获取部,其获取在从近红外光测量装置的各送光探针对物体发出一个光强度的光的情况下各受光探针所接收的光强度信息;光强度变化信息获取部,其根据基准光强度信息和光强度信息,来按每个探针组获取与光强度的变化有关的光强度变化信息;估计部,其使用光强度变化信息来获取与物体的内部的吸光度变化的位置有关的三维的光学特性变化部位信息;以及输出部,其输出光学特性变化部位信息,其中,估计部具备:校正单元,其使用灵敏度信息来进行与由于深度引起的灵敏度的衰减相应的校正;以及稀疏性应用单元,其引入提高空间分辨率的稀疏性来获取光学特性变化部位信息。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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