散射校正算法优化方法、装置、计算机设备和存储介质
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技有限公司
- 发明人:
- 何鎏春
- 申请号：
- CN202010441123.4
- 公开号：
- CN111598967A
- 申请日:
- 2020.05.22
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本申请涉及一种散射校正算法优化方法、装置、计算机设备和可读存储介质，其中，散射校正算法优化方法包括：获取模体的实测符合计数数据以及算法估计数据；分别对实测符合计数数据和算法估计数据进行子集划分，得到多个实测符合计数数据子集和多个算法估计数据子集；根据实测符合计数数据子集以及对应的算法估计数据子集的对比结果，调整算法估计数据子集的散射校正算法。上述方法通过将算法估计数据子集存在偏差的散射校正算法进行参数优化或计算后的校正，从而提高散射校正算法对符合计数数据的估计，降低估计偏差，实现了在长轴向PET系统应用中提高散射校正算法的精确度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
