一种电离层参数的获取方法
- 专利权人:
- 武汉工程大学
- 发明人:
- 程莉,袁梦,王程涛,党晶晶,饶云,黄东栋
- 申请号：
- CN201710025161.X
- 公开号：
- CN106842191A
- 申请日:
- 2017.01.13
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 刘杰
- 摘要：
- 本发明公开了一种电离层参数的获取方法，至少包括：先选择已知位置的广播电台作为发射站；再建立接收站，获取接收站的位置、接收信号的频率和接收信号的俯仰角信息；接着计算得到发射站和接收站之间的地面大圆距离；最后基于接收信号的频率、接收信号的俯仰角信息和地面大圆距离，利用遗传算法反演得到电离层参数。由于本发明能够在不建立发射站的基础上，利用现有的广播电台作为发射站，因此降低了电离层参数的获取成本。此外，由于采用了遗传算法进行反演，确保了电离层参数的搜索结果为全局最优结果，从而提高了反演结果的精度，进而提高了电离层参数的获取准确度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
