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X射线摄像装置、X射线摄像方法以及X射线摄像装置的监控方法
专利权人:
株式会社日立医疗器械
发明人:
坪田悠史,渡边史人,昆野康隆,小岛进一,山川惠介,黑川真次
申请号:
CN201480044568.1
公开号:
CN105451659A
申请日:
2014.10.22
申请国别(地区):
CN
年份:
2016
代理人:
摘要:
估算并校正位于X射线源与检测元件之间的物质的微小的设计公差等所引起的X射线的线质的变化。由此防止双能量摄影法中的物质识别能力的下降。X射线摄像装置(100)具备:固定过滤计算部(223),其使用以二种以上不同的管电压来拍摄空气(无被摄体)而得到的测量数据,计算与基准线质的偏移量,作为规定基准物质的透过距离(固有滤过)。固定过滤计算部通过针对上述测量数据应用基于双能量摄影法的基准物质透过距离变换,从而按照每个检测元件来计算基准物质透过距离(固有滤过)。在被摄体摄影时,通过考虑所计算出的每个检测元件的固有滤过来实施双能量摄影法,从而能够得到线质的变化被校正了的图像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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