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角膜乱視分析およびベクトル計画治療のためのトポグラフィ半経線パラメータの査定法
专利权人:
アルパインズ,ドクター ノエル アミ
发明人:
アルパインズ,ドクター ノエル アミ
申请号:
JP2012539040
公开号:
JP2013510687A
申请日:
2010.11.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
By 3mm, 5mm, and taking into account the topography of the concentric zones each of the three at 7mm from the center axis, and assign a weighting factor for each zone, the techniques for determining the topography parameters in each half-meridian of the eye is disclosed. By selectively treating the weighting values ​​of three segments, it is possible to obtain the parameters of the meridians sized and each half each meridian. Can be derived from these parameters, to find a value representing topography difference between the half-meridians two (TD) single topography value on the entire eye and (CorT),. Using a vector planning system topography values ​​on a semi-meridian, to obtain the treatment parameters in one operation step.中心軸から3mm、5mm、および7mmでの3つの同心区域それぞれにおけるトポグラフィを考慮し、各区域に関して重み付け係数を割り当てることによって、眼の各半経線においてトポグラフィパラメータを決定する技法が開示される。3つの区域における重み付け値を選択的に処理することによって、各半経線ごとに大きさおよび経線のパラメータを得ることができる。これらのパラメータから、眼全体に関する単一のトポグラフィ値(CorT)、ならびに2つの半経線の間でのトポグラフィ差分(TD)を表す値を見出すことができる。半経線に関するトポグラフィ値をベクトル計画システムで使用して、1ステップの操作で治療パラメータを得る。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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