X-荧光检测肥料级磷酸和预处理磷酸中的杂质的方法
- 专利权人:
- 瓮福达州化工有限责任公司
- 发明人:
- 杨晓梅,赵强,杨胜平,赵磊,王剑,文小兵,石家华
- 申请号：
- CN201511016842.7
- 公开号：
- CN105651800A
- 申请日:
- 2015.12.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 王学强`罗满
- 摘要：
- 本发明提供的X-荧光测定肥料级磷酸和PPA预处理磷酸中的杂质这方法与ICP方法比对，误差在0.2以内，且这些杂质可以只要30分钟就可以得出结果。现质检部已经采用该方法作为ICP故障的应急分析方案。同时不会因为ICP的维护和维修影响到生产控制。检测方法简单，不需要增加新的设备，提高了ICP的使用寿命，且不耽误生产。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
