压疮测量尺
- 专利权人:
- 钟玉霞
- 发明人:
- 钟玉霞
- 申请号：
- CN201320604652.7
- 公开号：
- CN203458386U
- 申请日:
- 2013.09.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型提供了一种压疮测量尺，所述压疮测量尺包括用于测量压疮的宽度的第一刻度尺、可滑动地设置于所述第一刻度尺上且用于测量压疮的深度的第二刻度尺及所述第二刻度尺相对所述第一刻度尺滑动至合适位置后被锁紧于所述第一刻度尺上的紧固装置。采用本实用新型提供的压疮测量尺只要一次定位即可测量压疮的宽度与深度，操作效率高，而且读数误差低。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
