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热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法
专利权人:
中国科学院地理科学与资源研究所
发明人:
张仁华,孙晓敏,朱治林,唐新斋,苏红波
申请号:
CN02123746.8
公开号:
CN1465970A
申请日:
2002.06.21
申请国别(地区):
中国
年份:
2004
代理人:
韦庆文
摘要:
本发明为热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法。本发明公开了一种具有多个V字型检测腔体并能够测定土壤一植被系统热辐射的多次反射效应测定仪。两个V字型腔体水平连接,构成W字型的腔体,使之可以完成三次反射功能。多个V字型腔体水平连接,构成VVV,VVVV等多级腔体,使之可以完成多次反射功能。在多级腔体的每一个折点处安装标准检定板。所有的腔体内侧和标准检定板的内侧镀金。本发明可以应用于测量或分析材料物理性质的领域。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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