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DISPOSITIF OPHTALMIQUE ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE DISPOSITIF OPHTALMIQUE
专利权人:
TOPCON CORPORATION;株式会社トプコン
发明人:
TATARA Yoko,多々良 陽子,NAKANISHI Michiko,中西美智子,MORISHIMA Shunichi,森嶋俊一
申请号:
JPJP2019/000438
公开号:
WO2019/187490A1
申请日:
2019.01.10
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
This ophthalmic device comprises a refractive power measurement optical system, a fixation projection system, an examination optical system, and a control unit. The refractive power measurement optical system: comprises a first focusing element for which a focus position can be changed; irradiates a subject eye with first light; and detects return light of the first light from the subject eye via the first focusing element. The fixation projection system projects a fixation mark on the subject eye. The examination optical system comprises a second optical system for which a focus position can be changed in conjunction with the first focusing element, and is used to perform a predetermined examination where second light is projected via the second focusing element at least onto the subject eye. The control unit controls the first focusing element and the second focusing element on the basis of a detection result for the return light. After the predetermined examination by the examination optical system has been executed, the fixation projection system is controlled, and the refractive power measurement is executed using the first light in a state where clouding of the subject eye is prompted.Ce dispositif ophtalmique comprend un système optique de mesure de puissance de réfraction, un système de projection de fixation, un système optique d'examen, et une unité de commande. Le système optique de mesure de puissance de réfraction comprend un premier élément de focalisation pour lequel une position de focalisation peut être modifiée ; irradie un œil du sujet avec une première lumière ; et détecte la lumière de retour de la première lumière provenant de l'œil du sujet par l'intermédiaire du premier élément de focalisation. Le système de projection de fixation projette une marque de fixation sur l'œil du sujet. Le système optique d'examen comprend un second système optique pour lequel une position de focalisation peut être modifiée en conjonction avec le premier élément d
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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