A system and related method for X-ray phase contrast imaging is described. The signal model is fitted to the interference measurement data. The fitting process results in a Compton cross section and photoelectric image. We will try to reduce the number of fitting variables by utilizing the proportional relation between Compton cross section and electron density. The Compton image may be adopted as a phase contrast image that reaches constant.Ｘ線位相コントラストイメージングのためのシステム及び関連する方法が説明される。信号モデルは干渉測定データにフィッティングされる。フィッティング処理は、コンプトン断面積及び光電画像をもたらす。コンプトン断面積及び電子密度の間の比例関係を利用して、フィッティング変数の個数削減を図る。コンプトン画像は一定に至る位相コントラスト画像として採用されてもよい。
