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IMPEDANCE MEASURING CIRCUIT
专利权人:
发明人:
Sinnyoung Kim,Shinji Nakatsuka,Daisuke Kurose
申请号:
US15065180
公开号:
US20170086702A1
申请日:
2016.03.09
申请国别(地区):
US
年份:
2017
代理人:
摘要:
An impedance measuring circuit has an amplification circuit connected to a target and to amplify a predetermined input signal with a gain corresponding to an impedance in the target and to output an output signal, a peak hold circuit to hold a peak value of the output signal and to output a hold value, and an impedance calculation circuit to calculate the impedance in the target based on the hold value.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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