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DEVICE DIAGNOSTIC SYSTEM
专利权人:
HITACHI LTD;株式会社日立製作所
发明人:
ISHIDA KYOKO,石田 響子,INAHARA TORU,稲原 徹,DOMOTO TAKUYA,堂本 拓也,TSUKADA NAGAHIRO,塚田 修大,SHIN YOSHITAKA,新 吉高
申请号:
JP2015163318
公开号:
JP2017041159A
申请日:
2015.08.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device diagnostic system capable of transferring sensor data under a limited transfer capacity while reducing noise and guaranteeing data necessary for diagnosis.SOLUTION: In the device diagnostic system, measurement and analysis with a sensor are repeated many times and an analysis result is transferred. The number of times of analysis is dynamically determined based on an evaluation result of sensor data.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】ノイズを抑制しつつ、診断に必要なデータを担保しながら、限られた転送容量の下でセンサデータを転送することができる機器診断システムを提供する。【解決手段】本発明に係る機器診断システムでは、センサによる測定および解析を複数回繰り返し、解析結果を転送する。解析を行う回数は、センサデータに対する評価結果に基づいて、動的に決定する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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